OMAHA, Neb. — Un ciudadano chino arrestado en abril en el aeropuerto internacional John F. Kennedy de Nueva York se declaró culpable en una corte federal tras ser acusado de tomar fotografías de aeronaves en la base aérea de Offutt Air Force Base.
De acuerdo con documentos judiciales, Tianrui Liang, de 21 años, aceptó culpabilidad por un cargo menor relacionado con fotografiar o realizar bocetos de instalaciones de defensa nacional. Su sentencia fue programada para el próximo 18 de junio en Omaha.
Las autoridades federales señalan que Liang habría tomado fotografías el pasado 31 de marzo cerca de la base aérea ubicada en Bellevue, Nebraska. Testigos reportaron haber visto al joven detenido a un costado de Harlan Lewis Road utilizando una cámara con lente telescópico mientras captaba imágenes de la línea de vuelo y aeronaves militares.
Según una declaración jurada presentada en el caso, Liang admitió ante investigadores que tomó fotografías de varios aviones. También reconoció que sabía que era ilegal fotografiar las aeronaves en tierra, pero indicó que lo hizo para observar el “estatus” de los aviones y como parte de una colección personal.
Documentos de la corte también indican que antes de llegar a Nebraska, Liang visitó Ellsworth Air Force Base y posteriormente tenía planes de viajar a Tinker Air Force Base.
Las autoridades detallaron que Liang era estudiante en Escocia y portaba un pasaporte chino. Además, se encontraba legalmente en Estados Unidos con una visa B1/B2 válida al momento de los hechos.
Liang fue arrestado el 7 de abril por agentes federales en Nueva York. Si el juez acepta formalmente el acuerdo de culpabilidad, podría enfrentar hasta un año de prisión.
Funcionarios de Offutt Air Force Base informaron previamente que estaban al tanto de la investigación y colaboraban para obtener más información sobre el caso.
